顆粒碰撞噪聲檢測儀，顆粒碰撞噪聲測試儀，粒子碰撞噪聲檢測儀，微粒碰撞噪聲檢測儀，PIND，4511，F(xiàn)ELIX

產品型號：4511A（22mm臺面）4511L（50mm臺面）4511M4（100mm臺面）4511M6（150mm臺面）4511L-R及4511M4-R（寬脈沖）

美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內多余粒子碰撞噪聲檢試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領域的繼電器等電子元器件封裝內的多余物松散顆粒。

工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Prticle Impct Noise Detection P.I.N.D.）是一種對多余物檢驗的有效手段。其原理是利用振動臺產生一系列指定的機械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產品中的顆粒（即多余物）松 動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統(tǒng)內產生位移。活動的多余物在產品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對產品殼體的滑動和撞擊的一個隨機組合過程。在這個過程中，將產生應力彈性波和聲波。這兩種波在產品殼體中傳播并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機采集、處理并顯示。檢測人員可以依據顯示的信號波形判定出信號性質，以此得出檢測結論。