美國博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀——為您提供準確、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics機型采用的的多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量點斑點的同時,可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics機型配備大面積的SDD(硅漂移探測器),有效拓展元素分析范圍,適應嚴格的微區(qū)、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。

的測試性能、突出的微區(qū)測量能力,Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管(其它靶材可選);小于100um的測量斑點

射線出射點預置于射線管Be窗正中央

長壽命的射線管燈絲

ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結構

顯著提高X射線信號強度

獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度

小于100um直徑的測量斑點