日本日置HIOKILCR測試儀3535為100kHz~120MHz的寬頻量程且價(jià)位低。具有6ms高速測定的內(nèi)置比較器和負(fù)載補(bǔ)償、BIN(分類)測量功能，應(yīng)用范圍廣，例如芯片互感、高速磁頭測試以及其他相關(guān)研發(fā)需求?？蓪⑶爸梅糯笃髋c3535拆離，使用電纜將其延伸，并盡可能接近被測物，以減小測量導(dǎo)線的影響。簡易的操作和低廉的價(jià)格，賦予這些元器件測試儀器出眾的性價(jià)比。無論是用于實(shí)驗(yàn)室評估運(yùn)行特性，還是用于生產(chǎn)線，都是您的理想選擇。

寬頻測量范圍

測量頻率100kHz~120MHz，以4位分辨率進(jìn)行設(shè)置。

zui快6ms高速測量

4種采樣速度可供選擇:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。zui快約為6ms(顯示|Z|時(shí))，為提高生產(chǎn)線效率提供快速采樣。(測量頻率視測量參數(shù)的不同而不同)。

14種測量參數(shù)

可測量以下參數(shù)，也可使用計(jì)算機(jī)捕捉必要的參數(shù)。|Z|，|Y|，θ，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，Lp，Ls，Cp，Cs，D(tanδ)和Q。

測量的同時(shí)進(jìn)行測量條件的調(diào)整

測量頻率、信號電平等測量條件，可在監(jiān)視測量值的同時(shí)進(jìn)行更改，所以可有效發(fā)揮于事前測量、評估標(biāo)準(zhǔn)等設(shè)置。

測量值的存儲

主機(jī)可存儲200組測量值。保存數(shù)據(jù)可一次傳輸?shù)接?jì)算機(jī)或打印出來。

放大顯示功能

zui多4組參數(shù)可放大顯示，便于生產(chǎn)線或其它距顯示有一定距離的情況下觀察測量值。

打印輸出

使用選件9442打印機(jī)，測量值、比較結(jié)果和屏幕數(shù)據(jù)可打印輸出。

BIN(分類)測量

2種測量zui多使用10組分類，利用測量值可以很容易地進(jìn)行分類。

連續(xù)測量

可存儲30組測量條件。從中zui大可連續(xù)測量保存于屏幕的5組測量條件。使用比較器功能時(shí)，使用1臺、并通過一系列的操作，可獲得這些條件的AND輸出。

負(fù)載補(bǔ)償功能

測量用于基準(zhǔn)參考的樣品，可補(bǔ)償測量值。用此功能可調(diào)和各儀器間的測量值。

存儲30組測量條件

利用可存儲30組包括比較值在內(nèi)的測量條件的功能，為隨時(shí)更換的樣品檢測的反復(fù)測量生產(chǎn)線，提供快速響應(yīng)。

同時(shí)測量4種參數(shù)

可選擇任何4種參數(shù)同時(shí)測量并顯示。

相關(guān)補(bǔ)償功能

可設(shè)置以下補(bǔ)償系數(shù)a和b，達(dá)到對測量值的補(bǔ)償。補(bǔ)償值=a×測量值+b

日本日置HIOKILCR測試儀3535測試|Z|, L, C, R

測試源頻率100kHz～120MHz

高速測量: 6ms

拆卸式前置放大器可選擇

為比較標(biāo)準(zhǔn)元件提供補(bǔ)償?shù)摹柏?fù)載補(bǔ)償功能

日本日置HIOKI3535LCR測試儀通過I/O接口可從外部控制觸發(fā)、鍵盤鎖開/關(guān)、以及測量條件的裝載。而且比較結(jié)果、測量完成等可以輸出，可應(yīng)用于自動化生產(chǎn)線。

日本日置HIOKILCR測試儀HIOKI 3535標(biāo)準(zhǔn)配置了RS-232C和GP-IB接口，除了電源ON/OFF以外，其它功能都可以由計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)控制。

RS-232C接口:

傳輸方式: 通信方式: 全雙工，同期方式: 啟停式傳輸

傳輸速度: 9,600、19,200bps數(shù)據(jù)長度: 8位

奇偶特性: 無

停止位: 1位

符號: CR+LF、CR

跟蹤控制: 無

連接方法: D-sub9pin插入式、反向連接

LCR測試儀3535 GP-IB接口:

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格: IEEE-488.1 1987

可使用IEEE-488.2 1987的共同指令

日本日置HIOKI 3535LCR測試儀技術(shù)參數(shù)：

測量參數(shù)

|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)

前置放大器

決定的測量量程

前置放大器9700-019700-029700-03Z和R100mΩ～1kΩ500Ω～10kΩ5kΩ～100kΩC1.33pF～15.9μF0.133pF～3.18nF0.1pF～318pFL1nH～1.59mH663nH～15.9mH6.63μH～159mHθ-180.00°～180.00°測量頻率

量程100kHz～120MHz分辨率設(shè)置4位（使用前控制板設(shè)置）100.0kHz～1.000MHz100Hz幅度1.000MHz～10.00MHz1kHz幅度10.00MHz～100.0MHz10kHz幅度100.0MHz～120.0MHz100kHz幅度使用GP-IB或RS-232C接口時(shí)，分辨率為1Hz。精度zui大± 0.005%，相對于設(shè)置值測量電平

開路接口電壓（V）和恒壓（CV）模式5mV～1V,zui大20mA(10.000MHz以下)5mV～500mV,zui大10mA（10.01MHz以上）分辨率1mV幅度精度±（5%+5mV）×(2+log f)(f為MHz數(shù))恒流（CC）模式200μA～20mA,zui大1V（10.00MHz以下）200μA～10mA,zui大0.5V（10.01MHz以上）分辨率10A幅度精度±（10%+50μA）× (2+log f)(f為MHz數(shù))基本精度

Z：± 0.5%rdg.θ：± 0.3°

輸出阻抗

50Ω ± 10Ω（100kHz時(shí)）

監(jiān)視

電壓0.000V～1.000V

電流0.000mA～20.0mA

限制

電壓（設(shè)置為CC）0.005V～1.000V

電流(設(shè)置為V或CV) 0.20mA～20.00mA

平均

關(guān)，2，4，8，16，32，64

觸發(fā)

內(nèi)置觸發(fā)器，外置觸發(fā)器

觸發(fā)延時(shí)0.01s～9.99s；0.01s分辨率

比較

可得到兩組測量參數(shù)：百分比，△%，或值設(shè)置（△%即顯示測量值與標(biāo)準(zhǔn)值的偏差）

控制盤存儲和調(diào)用

zui多30組

屏幕顯示

測量值和比較器的判斷結(jié)果

顯示線數(shù)

可設(shè)置成3，4，或5；根據(jù)參數(shù)可能有所不同

打印

拷貝測量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446）

接口

GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn))

操作環(huán)境

10～40°C，zui大80%rh，無凝結(jié)

倉儲環(huán)境

-10～55°C，zui大80%rh，無凝結(jié)

供電電源

交流100V～240V，50/60Hz，約50VA

體積及重量

約360寬×130高×360厚（mm）；8.3kg

日本日置LCR測試儀HIOKI 3535選件：

9700-10 前置放大單元：測量范圍: 100mΩ～300kΩ

9677 SMD測試冶具：側(cè)面SMD 電極;工作頻率: DC～120MHz,測量對象尺寸: 3.5±0.5mm, 與3535組合使用時(shí)，無CE標(biāo)記

9699 SMD測試冶具：底部SMD電極,工作頻率: DC～120MHz,測量對象尺寸: 寬1.0～4.0mm, 高1.5mm以下

9678 連接電纜:電纜長: 2m

9151-02 GP-IB連接電纜:2m 長