X-RAY膜層測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.其比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量.為了使每次測量都能在的條件下進(jìn)行,儀器配備了可電動調(diào)整的多個準(zhǔn)值器及基本濾片.無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量.并且有著良好的長期穩(wěn)定性,不用經(jīng)常佼準(zhǔn)儀器,可節(jié)省時間。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

1.測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件

2.測量微小區(qū)域上的薄鍍層

3.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

4.全自動測量,如測量印刷線路板

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