產(chǎn)品介紹:

SD-300i用于測定單晶材料的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀，實(shí)現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

缺陷和定向雙功能

配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護(hù)罩，確保使用

表格和曲線的形式顯示，一目了然

速度快，重復(fù)性好

效率高，數(shù)據(jù)實(shí)時處理

技術(shù)參數(shù)：

測試時間：1-2分鐘

重復(fù)性精度：±5。

測角精度為±15

小讀數(shù)1

典型客戶:

臺灣及國內(nèi)藍(lán)寶石及半導(dǎo)體客戶廣泛應(yīng)用。