失效率

現(xiàn)階段，失效率主要被用來對(duì)產(chǎn)品是否可靠進(jìn)行量化描述。該特征數(shù)指的是在某時(shí)刻前始終處于正常運(yùn)行狀態(tài)的產(chǎn)品，在運(yùn)行到這一時(shí)刻后在單位時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)失效問題的概率。作為對(duì)產(chǎn)品是否可靠進(jìn)行判斷的主要依據(jù)，失效率等級(jí)往往與元件質(zhì)量、可靠性水平密切相關(guān)，現(xiàn)階段，各版本國(guó)軍標(biāo)所采取表述方式通常存在明確區(qū)別。例如，GJB65A-91 將繼電器對(duì)應(yīng)失效率等級(jí)劃分成了 4 級(jí)，由低至高依次為 Y/W/L/Q 級(jí)，并指出電容器同樣遵循以上規(guī)定。GJB244-87 則將元件失效率等級(jí)劃分成為 W/L/Q/B 4級(jí)。對(duì)于由國(guó)軍標(biāo)生產(chǎn)線所生產(chǎn)、已通過認(rèn)證且在產(chǎn)品目錄中有據(jù)可循的缺少可靠指標(biāo)的電連接器和云母電容器等元件，有關(guān)人員通常用 J 對(duì)其質(zhì)保等級(jí)進(jìn)行描述。

電子元器件在質(zhì)量方面國(guó)際上有歐盟的CE認(rèn)證，美國(guó)的UL認(rèn)證，德國(guó)的VDE和TUV認(rèn)證以及中國(guó)的CQC認(rèn)證等國(guó)內(nèi)外認(rèn)證，來保證元器件的合格。

組合電路

集成電路是一種采用特殊工藝，將晶體管、電阻、電容等元件集成在硅基片上而形成的具有一定功能的器件，英文縮寫為IC，也俗稱芯片。

模擬集成電路是指由電阻、電容、晶體管等元件集成在一起用來處理模擬信號(hào)的模擬集成電路。有許多的模擬集成電路，如集成運(yùn)算放大器、比較器、對(duì)數(shù)和指數(shù)放大器、模擬乘(除)法器、鎖相環(huán)、電源管理芯片等。模擬集成電路的主要構(gòu)成電路有：放大器、濾波器、反饋電路、基準(zhǔn)源電路、開關(guān)電容電路等。模擬集成電路設(shè)計(jì)主要是通過有經(jīng)驗(yàn)的設(shè)計(jì)師進(jìn)行手動(dòng)的電路調(diào)試、模擬而得到，與此相對(duì)應(yīng)的數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)大部分是通過使用硬件描述語言在EDA軟件的控制下自動(dòng)的綜合產(chǎn)生。

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