地質(zhì)調(diào)繪作為地質(zhì)勘察的重要組成部分，主要的調(diào)繪內(nèi)容應與路線及沿線結構設置相結合，對地形地貌以及地質(zhì)構造等相關的地質(zhì)條件進行調(diào)查，為路線方案比選、場地選址等提供依據(jù)。

調(diào)繪點主要布置在地貌單元的邊界、斷層、地層接觸線，巖層露頭、特殊性巖土和不良地質(zhì)體的界線等部位，以便于指導后期勘察工作重點部位的布置，同時要根據(jù)調(diào)繪的實際情況，合理進行勘探工作。對于不良地質(zhì)以及特殊的巖土等地質(zhì)條件不利地段，必須要擴大調(diào)繪范圍。

進行基坑設計時，應考慮的荷載，土壓力、水壓力;地面超載;影響范圍內(nèi)建(構)筑物產(chǎn)生的側(cè)向荷載;施工荷載及鄰近基礎工程施工(如打樁、基坑開挖、降水等)的影響;需要時，宜結合工程經(jīng)驗考慮溫度影響和混凝土收縮、徐變引起的作用及挖土和支撐施工的時空效應。

基坑設計應包括下列內(nèi)容：

（1）支護結構體系的方案和技術經(jīng)濟比較；

（2）基坑支護體系的穩(wěn)定性驗算；

（3）支護結構的承載力、穩(wěn)定和變形計算；

（4）地下水控制設計；

（5）對周邊環(huán)境影響的控制設計；

（6）基坑土方開挖方案；

（7）基坑工程的監(jiān)測要求。

基坑設計等級、結構設計使用年限、結構重要性系數(shù)，應根據(jù)基坑工程的設計、施工及使用條件按有關規(guī)范的規(guī)定采用。

2、水文地質(zhì)測繪

水文地質(zhì)測繪工作是對地下水和其相關的地質(zhì)現(xiàn)象進行實地觀測，進而用其查明地下水的形成、分布、埋藏條件以及巖土的含水性，尋找富水地段，運用遙感技術，解譯一些通過航空和衛(wèi)星得到的照片，配合進行的水文地質(zhì)測繪，有效地提高地面測繪效率和精度。