本實驗室是一家具備HALT測試（高加速壓力測試）和HASS測試（高加速應力篩選試驗）的第三方檢測機構。實驗室配備Halt試驗箱，提供各類芯片、電路板、中小型設備的HALT測試和HASS試驗。

檢測機構具備CNAS和CMA資質(zhì)，位于北京市西城區(qū)廣安門外大街，地理位置優(yōu)越，工程師測試經(jīng)驗豐富，出具檢測報告快捷，進行HALT測試和HASS試驗安排方便，高能。

HALT（高加速生命周期測試）是一種在工程開發(fā)過程中驗證產(chǎn)品可靠性的壓力測試，HASS（高加速應力篩選）主要用于批量生產(chǎn)期間篩選出弱PCBA。兩者都通常應用于電子設備，用于識別/解決新開發(fā)產(chǎn)品中的設計弱點。

兩種試驗，都需要用到高加速壽命試驗箱。

為什么 HALT/HASS 試驗箱很重要？

與其他環(huán)境模擬箱不同，HALT 和 HASS 試驗箱提供快速升溫速率（高達每分鐘 60C），并將熱、振動和沖擊仿真結合在單個設備中?？稍谌齻€線性軸（X、Y 和 Z）和三個旋轉(zhuǎn)軸（俯仰、橫滾和偏航）上同時施加高達 50 Grams 的振動水平。

HALT 如何提高產(chǎn)品的可靠性？

HALT測試基本上用于在短時間內(nèi)增量應用高壓力水平，已知這超出了預期的現(xiàn)場環(huán)境場景。使用增量階躍應力方法的好處是故意拉伸所有變量，直到發(fā)生任何異常。由于 HALT 測試純粹是為了誘發(fā)故障而設計的，因此它不僅像通過/失敗測試一樣，而且肯定需要對某些故障和糾正措施進行 RCA（根本原因分析），以從整體測試中獲得價值。它增強了我們學習和仔細檢查產(chǎn)品設計和材料局限性的能力。但是，它提供了一些機會，可以在市場發(fā)布前的開發(fā)/原型階段不斷改進設計。

實驗室具備HALT測試（高加速壓力測試）和HASS測試（高加速應力篩選試驗）的試驗能力，歡迎廣大客戶光臨。