114檢測(cè)主要開展電工電子、工控、通信、機(jī)電、鐵路，風(fēng)電，軍工等行業(yè)產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)，電磁兼容試驗(yàn)，失效分析等。實(shí)驗(yàn)室擁有CNAS和CMA資質(zhì)并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。為客戶提供科學(xué)的實(shí)驗(yàn)方案和強(qiáng)大的技術(shù)支持環(huán)境可靠性測(cè)試一站式服務(wù) 。

主要試驗(yàn)內(nèi)容包括：鹽霧試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、耐濕試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、高溫壽命試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、有焰燃燒試驗(yàn)、密封試驗(yàn)、低頻振動(dòng)試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、高頻振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、介電強(qiáng)度試驗(yàn)、絕緣電阻試驗(yàn)等。

本標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的微電子器件的環(huán)境試驗(yàn)，物理試驗(yàn)及電試驗(yàn)方法，在適當(dāng)時(shí)，也適用于已批準(zhǔn)的軍用規(guī)范所未包括的微電子器件。

為保證按本標(biāo)準(zhǔn)篩選的相同等級(jí)的所有器件具有一致的質(zhì)量和可靠性性，提供了相同水平的物理試驗(yàn)，電試驗(yàn)和環(huán)境實(shí)驗(yàn)，生產(chǎn)控制，工作質(zhì)量以及各種材料。

微電子器件包含的試驗(yàn)有：低氣壓試驗(yàn)，浸液試驗(yàn)，絕緣電阻，耐濕熱試驗(yàn)，穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)，模擬壽命試驗(yàn)，鹽霧腐蝕試驗(yàn)，溫度循環(huán)試驗(yàn)，熱沖擊試驗(yàn)，密封試驗(yàn)等。

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