高加速壽命試驗是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。高加速壽命試驗的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

檢測項目：

低溫步進應力試驗 高溫步進應力試驗 快速熱循環(huán)試驗 振動步進應力試驗 綜合應力試驗

適用范圍：

1.計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等

2.電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設備；

4.其他：包裝箱、運輸設備等。

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