博曼X射線膜厚測(cè)試儀主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM(Distenco ControlledMeasurement)及強(qiáng)大的電腦功能來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算,在加強(qiáng)的軟件功能之下,簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù)雜鍍層的程序,甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下,一樣測(cè)量。

只需輕輕按一下激光對(duì)焦按鈕,就可自動(dòng)進(jìn)行對(duì)焦。對(duì)于測(cè)量有高低差的樣品時(shí),配置了為防止樣品和儀器沖撞的自動(dòng)停止功能。

博曼X射線膜厚測(cè)試儀,可對(duì)應(yīng)于含無(wú)鉛焊錫在內(nèi)的合金電鍍或多層電鍍的測(cè)量,應(yīng)用范圍廣泛。

利用Microsoft的Office操作系統(tǒng)可將檢測(cè)報(bào)告工作之便簡(jiǎn)單快速地打印出來(lái)。

產(chǎn)品描述:

美國(guó)博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics臺(tái)式X射線熒光(XRF)鍍層測(cè)厚儀——為您提供準(zhǔn)確、快速簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量、元素分析,以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics機(jī)型采用先進(jìn)的的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置,有效縮小測(cè)量點(diǎn)斑點(diǎn)的同時(shí),可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強(qiáng)度。

Bowman BA-100 Optics機(jī)型配備大面積的SDD(硅漂移探測(cè)器),有效拓展元素分析范圍,適應(yīng)嚴(yán)格的微區(qū)、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。

的測(cè)試性能、突出的微區(qū)測(cè)量能力,Bowman BA-100 Optics機(jī)型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

博曼X射線膜厚測(cè)試儀分析:

元素范圍:鋁13到鈾92。

x射線激發(fā)能量:50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管

探測(cè)器:硅PIN檢測(cè)器250 ev的分辨率或更高的分辨率

測(cè)量的分析層和元素:5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素

過濾器/準(zhǔn)直器:4個(gè)初級(jí)濾波器,4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)

聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)

數(shù)字脈沖處理:4096多通道數(shù)字分析器與自動(dòng)信號(hào)處理,包括X射線時(shí)間修正和防X射線積累

電腦:聯(lián)想

鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率

電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲

工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無(wú)冷凝水

重量:32公斤

內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”) 140*310mm

外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm

博曼X射線膜厚測(cè)試儀主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。博曼PCB板臺(tái)式膜厚測(cè)試儀采用真正的基本參數(shù)原理(FP)來(lái)測(cè)量厚度.