德國QUART TYPE38線對(duì)卡

X 射線測(cè)試圖案用于高對(duì)比度和/或空間分辨率測(cè)量。

該程序在 X 射線 QA 和服務(wù)方面有著悠久的傳統(tǒng)，并且易于執(zhí)行

測(cè)試圖案用于評(píng)估膠片屏幕系統(tǒng)、放大技術(shù)和 X 射線成像系統(tǒng)的分辨率能力。

圖案由各種引線厚度組成。通常在每個(gè)圖案上相應(yīng)的厚度。每個(gè)測(cè)試圖案通常都封裝在塑料中，即組織等效材料。

每個(gè)模式的分辨率范圍因測(cè)試類型而異。

技術(shù)規(guī)格

類型 1：1.0 ... 4.86 LP/mm / 16 組

1-83型：0.5 ... 5.0 LP/mm / 16組

類型 2：0.25 … 3.33 LP/mm / 16 組

4A 型：0.5 ... 8.0 LP/mm / 2x 9 組

4B 型：0.5 ... 5.5 LP/mm / 2x 13 組

4C 型：1.4 ... 8.0 LP/mm / 2x 16 組

6-2.8 型：2.8 ... 5.0 LP/mm / 2x 6 組

類型 10：0.25 … 2.0 LP/mm / 6 組

15 型：0.315 ... 1.25 LP/mm / 2x 7 組

16型：0.5 ... 4.0 LP/mm / 7組

17型：0.177 ... 3.33 LP/mm / 18組

類型 18：0.5 ... 5.0 LP/mm / 21 組 / 2 個(gè)添加的對(duì)比度區(qū)域

18a 型：0.5 ... 7,1 LP/mm / 24 組 / 2 個(gè)附加對(duì)比場(chǎng)

18b 型：0.5 ... 10.0 LP/mm / 27 組 / 2 個(gè)增加的對(duì)比場(chǎng)

18c 型：0.5 ... 16.6 LP/mm / 31 組 / 2 個(gè)增加的對(duì)比度區(qū)域

18d 型：0.5 ... 16.6 LP/mm / 32 組 / 2 個(gè)附加對(duì)比場(chǎng)

18e 型：0.5 ... 16.6 LP/mm / 30 組 / 2 個(gè)增加的對(duì)比度區(qū)域

21型：2.0 ... 10.0 LP/mm / 16組

22 型：3.54 … 4.86 LP/mm / 2x 4 組

22A 型：4.0 ... 7.14 LP/mm / 2x 4 組

22B 型：3.93 … 5.5 LP/mm / 2x 4 組

38型：0.6 ... 5.0 LP/mm / 20組

41 型：0.6 ... 3.4 LP/mm / 2x 15 組

42 型：2.0 ... 6.0 LP/mm / 2x 14 組

43 型：3.4 ... 10.0 LP/mm / 2x 15 組

46 型：0.8 ... 9.5 LP/mm / 2x 15 組

52型：0.05 + 0.1 + 0.25...3.4 + 3.7 LP/mm / 19組

53 型：0.25 + 0.5...10.0...6.0 LP/mm / 23 組

54型：0.5 + 0.1 + 0.25...3.55...2.8 LP/mm / 28組

56型：0.5 + 0.1 + 0.25...3.55...2.8 LP/mm / 48組

68 型：1.4 ... 8.4 LP/mm / 2x 10 組

80 型：2.0 ... 6.0 LP/mm / 2x 12 組

81 型：0.6 … 10.0 LP/mm / 26 組

84 型：0