LIV 即光電特性，是驗(yàn)證激光二極管、探測(cè)器性能的普遍的方法。在晶圓、切割、管芯、封裝后老化測(cè)試過(guò)程中，為降低生產(chǎn)成本同時(shí)增加產(chǎn)品吞吐量，快速可靠的 LIV 測(cè)試系統(tǒng)對(duì)制造光電器件的工廠是很重要的。

根據(jù) Laser Diode工作原理，通常技術(shù)人員要用到電流源來(lái)驅(qū)動(dòng)LD工作，產(chǎn)生光的同時(shí)用光功率計(jì)測(cè)量光功率來(lái)完成 LIV 特性測(cè)試。在不同的測(cè)試階段例如 Chip 測(cè)試，技術(shù)人員將電流源、電壓表、電流表、開(kāi)關(guān)、同步觸發(fā)單元、光功率計(jì)集成起來(lái)才能完成測(cè)試，同時(shí)老化測(cè)試前后需要將每個(gè)管芯或模塊的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜程度，影響了測(cè)試精度和數(shù)據(jù)可靠性。

普賽斯儀表開(kāi)發(fā)的LIV測(cè)試系統(tǒng)采用國(guó)產(chǎn)S型數(shù)字源表為核心，結(jié)合測(cè)試軟件以及第三方設(shè)備積分球探測(cè)器完成 LD的LIV測(cè)試。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、可靠性好、速度快，提高生產(chǎn)效率的同時(shí)也增加了測(cè)試精度和可靠性，并且降低了測(cè)試成本。

需要測(cè)試的參數(shù)：

驅(qū)動(dòng)電流 I, 正向壓降 Vf

光功率 Po

閾值電流 Ith

拐點(diǎn) Ikink, 背光電流 Idark

需要儀器列表：

S 型國(guó)產(chǎn)源表

積分球

可變光源

軟件

高校相關(guān)專業(yè)

微電子，材料專業(yè)

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