可靠性測試就是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和儲存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機理。

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電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從代電子管產(chǎn)品進入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結果導致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。而電子元器件將隨環(huán)境溫度的增高，降低其可靠性，因而元器件的可靠性引起人們的極大重視。

可靠性已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質量指標加以考核和檢驗。長期以來，人們只用產(chǎn)品的技術性能指標作為衡量電子元器件質量好壞的標志，這只反映了產(chǎn)品質量好壞的一個方面，還不能反映產(chǎn)品質量的全貌。因為，如果產(chǎn)品不可靠，即使其技術性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說，可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質量。