期刊簡(jiǎn)介

主辦單位：上海貝嶺股份有限公司

出版周期：月刊

ISSN：1674-2583

CN：31-1325/TN

出版地：上海市

語種：中文

開本：16開

創(chuàng)刊時(shí)間：1984

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欄目

創(chuàng)新應(yīng)用、業(yè)界風(fēng)云、研究與設(shè)計(jì)、區(qū)域動(dòng)態(tài)、市場(chǎng)分析、工藝與制造、新產(chǎn)品速遞、新技術(shù)聚焦、應(yīng)用專題、產(chǎn)業(yè)評(píng)論、行業(yè)分析、設(shè)計(jì)訣竅、主編致辭、話說芯片、新產(chǎn)品發(fā)布

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往期目錄（節(jié)選）

研究與設(shè)計(jì)

基于高壓SOI的功率因數(shù)校正LED驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì) 羅丙寅;1-3

基于ONFI標(biāo)準(zhǔn)的NAND Flash控制器設(shè)計(jì)與仿真 汪莉莉;吳帥;4-7

5G應(yīng)用關(guān)鍵材料硅基氮化鎵專利大數(shù)據(jù)的解讀 趙雅飛;8-11

基于區(qū)塊鏈共識(shí)機(jī)制的SDWAN零信任網(wǎng)絡(luò)架構(gòu) 羅可人;12-15

基于大規(guī)模感知技術(shù)的我國家庭智能設(shè)備展望 李原;張子飛;李想;16-19

振筒式結(jié)冰探測(cè)器硬件電路設(shè)計(jì) 武晉文;王華征;宋繼紅;20-21

199D系列鉭電容器典型缺陷模式及檢測(cè)方法研究 王宇;任建波;李泱;顧崟;張湃;22-24

工藝與制造

Mn2+摻雜CdS納米帶的制備及其發(fā)光特性 陳海燕;25-27

改善爐管晶舟立柱對(duì)多晶硅沉積的影響 張凌越;姜波;陳廣倫;張俊利;28-31

提高電路板設(shè)計(jì)品質(zhì)的檢查方法 邵疆;32-35

基于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE的PCB設(shè)計(jì)優(yōu)化 陳參參;36-38

芯片封裝工藝的改進(jìn)方法研究 何桂港;39-41

創(chuàng)新應(yīng)用

零件測(cè)量與質(zhì)量控制技術(shù)的網(wǎng)課教學(xué)案例 呂紫微;51-53

基于文本分類的智能垃圾回收機(jī)設(shè)計(jì) 陽國華;姜川;54-57

國企后備人才管培生項(xiàng)目的實(shí)踐研究 朱衛(wèi)康;58-60

計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)專業(yè)高職人才培養(yǎng)模式探索 何新洲;肖學(xué)玲;61-63

基于FPGA的適合優(yōu)化脈寬調(diào)制技術(shù)的波形發(fā)生器設(shè)計(jì) 張碩;包靜雅;64-65

基于STM32單片機(jī)的智能導(dǎo)盲機(jī)器人設(shè)計(jì) 何杰;張志平;66-67