光伏組件常見的質(zhì)量問題有熱斑、隱裂和功率衰減。由于這些質(zhì)量問題隱藏在電池板內(nèi)部，或光伏電站運(yùn)營一段時(shí)間后才發(fā)生，在電池板進(jìn)場驗(yàn)收時(shí)難以識別，需借助專業(yè)設(shè)備進(jìn)行檢測。

熱斑形成原因及檢測方法

光伏組件熱斑是指組件在陽光照射下，由于部分電池片受到遮擋無法工作，使得被遮蓋的部分升溫遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于未被遮蓋部分，致使溫度過高出現(xiàn)燒壞的暗斑。光伏組件熱斑的形成主要由兩個(gè)內(nèi)在因素構(gòu)成，即內(nèi)阻和電池片自身暗電流。熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測試驗(yàn)。通過合理的時(shí)間和過程對太陽電池組件進(jìn)行檢測，用以表明太陽電池能夠在規(guī)定的條件下長期使用。熱斑檢測可采用紅外線熱像儀進(jìn)行檢測，紅外線熱像儀可利用熱成像技術(shù)，以可見熱圖顯示被測目標(biāo)溫度及其分布。

隱裂形成原因及檢測方法

隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋，電池片的隱裂會加速電池片功率衰減，影響組件的正常使用壽命，同時(shí)電池片的隱裂會在機(jī)械載荷下擴(kuò)大，有可能導(dǎo)致開路性破壞，隱裂還可能會導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。

隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的，組件受力不均勻，或在運(yùn)輸、倒運(yùn)過程中劇烈的抖動都有可能造成電池片的隱裂。光伏組件在出廠前會進(jìn)行EL成像檢測，所使用的儀器為EL檢測儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理，利用高分辨率的CCD相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。EL檢測儀能夠檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。

光伏組件倒運(yùn)是指通過機(jī)械設(shè)備或運(yùn)輸車輛將整箱光伏組件由光伏組件集中放置區(qū)域運(yùn)輸至組件安裝地點(diǎn)。光伏組件倒運(yùn)需將車速控制在5km/h之內(nèi)，防止組件因顛簸、碰撞出現(xiàn)碎裂。組件宜放置在靠近光伏支架側(cè)的平整地面上，并方便道路暢通、車輛通行。施工現(xiàn)場已開箱光伏組件需保證正面朝上平放，底部墊有木制托盤或電池板包裝物，嚴(yán)禁斜放或懸空，嚴(yán)禁將電池板引出線及插頭擠壓扯拽，嚴(yán)禁將組件背面直接暴露在太陽光下。

廢硅料的報(bào)價(jià)區(qū)間起浮在40~150元每公斤，原生的硅晶片報(bào)價(jià)要遠(yuǎn)高于廢硅料的報(bào)價(jià)。廢硅料回收歸類

1.原生型廢硅料：碳頭料、鍋底料、頭尾料、切開型碎片、拋光型廢片等。

2.成品型廢硅片：渙散型廢片、外延型廢片、氧化型廢片、涂層型廢片、電路型廢片等。廢硅料的回收價(jià)值及處理方法

2.1、廢整片的處理方法：將完整的電子級廢硅圓片經(jīng)過外表處理、劃片后直接作為太陽能級硅片來運(yùn)用。由于電子級的硅片都是圓形(面積大能制作出更多芯片)，而太陽能級的硅片是準(zhǔn)方形的(節(jié)省電池空間)，所以必需求劃成一定標(biāo)準(zhǔn)后才華運(yùn)用。

2.2、廢碎(塊)料的處理方法(1)原生型廢硅料的處理：恰當(dāng)清洗、烘干即可。(2)成品型廢硅片的處理：依據(jù)加工到不一樣技能進(jìn)程的廢料進(jìn)行不一樣處理，經(jīng)過一系列化學(xué)方法(與直接運(yùn)用的成品型廢硅整片的處理方法一樣)恢復(fù)其原生型硅料的正本相貌，才華回爐作為太陽能級硅片的質(zhì)料。

硅作為如今電子工業(yè)中主要的人物，在電子職業(yè)展開中有很大的成分，所以對廢硅料回收再利用舊顯得尤為主要。