一．概述

電子標(biāo)簽低高頻測(cè)試儀HF/LF標(biāo)簽測(cè)試儀是我公司研制的基于低或高頻電子標(biāo)簽（RFID）測(cè)試儀的升級(jí)產(chǎn)品.其集合高頻與低頻的測(cè)試功能與一身.同時(shí)增加了輸出功率的調(diào)節(jié),以滿足客戶在不同的輸出功率下測(cè)試標(biāo)簽的需求.

二.技術(shù)參數(shù)

1.頻率測(cè)量范圍：高頻1MHz—30MHz/低頻 50KHz—200KHz

2.諧振頻率測(cè)量誤差：±1%

3.Q值測(cè)量范圍： 0—999

4.Q值測(cè)量誤差：±5%

5.有效帶寬測(cè)試

6.LCD顯示：3.2寸TFT顯示

7.反饋信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試:分辨率0.1dbm

8.輸出功率0db / 10db切換（高頻測(cè)試）

9.頻譜曲線圖顯示

10.測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存(多50組數(shù)據(jù)),通過(guò)USB導(dǎo)出

11.理論小測(cè)試標(biāo)簽5mm

12.測(cè)試數(shù)據(jù)完全校對(duì)TD8200