QFN52-0.4翻蓋彈片測試座/老化座
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品用途:編程座、測試座，對QFN52的IC芯片進(jìn)行老化、測試
適用封裝:QFN52引腳間距0.4mm
測試座:QFN52-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針，接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號:QFN52-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:52
適配芯片尺寸: 7*7mm
免費(fèi)店鋪在線升級
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QFN52-0.4翻蓋彈片測試座/老化座
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品用途:編程座、測試座，對QFN52的IC芯片進(jìn)行老化、測試
適用封裝:QFN52引腳間距0.4mm
測試座:QFN52-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針，接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號:QFN52-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:52
適配芯片尺寸: 7*7mm
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