DIP封裝集成電路老化測試座
該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
產(chǎn)品型號及規(guī)格;
IC-8J~IC-64J
主要技術指標;
間距;2.54mm
環(huán)境溫度;-55℃—+155℃
接觸電阻;≤0.01歐
工作電壓;DC500V
單腳插入力;≤0.2Kg
彈片金層厚度;1um鎳2um金
插拔壽命;高低溫狀態(tài)下插拔壽命;2000-3000次
DIP封裝集成電路老化測試座
該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
產(chǎn)品型號及規(guī)格;
IC-8J~IC-64J
主要技術指標;
間距;2.54mm
環(huán)境溫度;-55℃—+155℃
接觸電阻;≤0.01歐
工作電壓;DC500V
單腳插入力;≤0.2Kg
彈片金層厚度;1um鎳2um金
插拔壽命;高低溫狀態(tài)下插拔壽命;2000-3000次
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