電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目包括哪些

電子產(chǎn)品可以通過(guò)可靠性測(cè)試來(lái)確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲(chǔ)時(shí)的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設(shè)計(jì)提供有用的數(shù)據(jù);也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、原材料和工藝流程等方面存在的問(wèn)題。通過(guò)失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問(wèn)題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。

可靠性測(cè)試指：產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證，這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。

氣候環(huán)境的變化是電子產(chǎn)品可靠性中不可忽視的重要因素，氣候環(huán)境測(cè)試主要是檢驗(yàn)產(chǎn)品對(duì)各種環(huán)境的適應(yīng)能力，在濕潤(rùn)、干燥、高溫、低溫、連續(xù)溫度變化或溫度循環(huán)變化、日光老化、霉菌、氣體腐蝕和臭氧等氣候條件下使用或存儲(chǔ)的適應(yīng)性，因?yàn)樗鼤?huì)直接或間接影響產(chǎn)品的可靠性，所以產(chǎn)品是否可靠還必須用氣候環(huán)境試驗(yàn)來(lái)證明。

氣候環(huán)境測(cè)試項(xiàng)目主要包括：

氙燈光老化試驗(yàn)--Xenon-arc aging

紫外光老化試驗(yàn)--QUV aging

臭氧老化試驗(yàn)--Ozone aging

鹽霧腐蝕測(cè)試——Salt Spray Test

硫化試驗(yàn)--Sulphur resistance

低溫測(cè)試——Low Temperature Test

高溫測(cè)試——High Temperature Test

高低溫變化測(cè)試(溫度沖擊試驗(yàn))——Temperature Change Test

溫度循環(huán)測(cè)試——Temperature Cycle Test

溫濕度循環(huán)測(cè)試——Temperature & Humidity Cycle Test

溫度+濕度+振動(dòng)三綜合試驗(yàn)--Temperature & damp & vibration test

上述試驗(yàn)項(xiàng)目比較地概括了產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中碰到的外界環(huán)境。實(shí)際測(cè)試時(shí)，因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大，企業(yè)可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)，適當(dāng)選取、增加一些項(xiàng)目來(lái)測(cè)試，也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法，自行設(shè)計(jì)一些新測(cè)試項(xiàng)目，以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長(zhǎng)期工作。