產品介紹:

Helios-PL光致發(fā)光測試系統能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析，能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產工藝。

產品特點：

適用幾乎所有類型太陽能電池：

單晶硅片及電池/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池

完整的檢測系統：

少子壽命掃描/串聯電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線

速度快，每片測試時間小于1秒

精度高，能實時找到每個致少子壽命降低的缺陷

可以監(jiān)控和優(yōu)化關鍵工藝，包括擴散、去磷硅玻璃等等

可以在線和離線分析

功能強大的分析軟件，可以分析幾乎所有的缺陷

先投入先產出，投入產出比遠高于行業(yè)的1：2

革命性的產品，未來的趨勢所在

技術參數：

銦砷鎵傳感器：900-1500nm

測試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm

像素：752×480pixel

尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg

每片測試時間<1s

典型客戶:

美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。