一、測量原理：

發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩(wěn)定和的測量。即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波。

輸入

天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比：

D=C×T/2

其中C為光速

因空罐的距離E已知，則物位L為：

L=E-D

輸出

通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于4－20mA輸出。

應用介質：

FH-LD800系列雷達物位計適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發(fā)存在的場合。

采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對人體及環(huán)境均無傷害。

三、測量條件：

注意事項

測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。

若介質為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

理論上測量達到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。

對于過溢保護，可定義一段距離附加在盲區(qū)上。

小測量范圍與天線有關。

隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。